《Microelectronics Reliability》杂志的影响因子是多少？怎么查询？

《Microelectronics Reliability》杂志影响因子是1.6。

查询期刊影响因子的方法有多种，以下是一些建议的途径：

1、官方网站查询：访问Web of Science的官方网站，该网站提供了全面的期刊影响因子数据。

2、通过 SCI 或 SSCI 数据库查询：SCI或SSCI数据库通常每年6月更新影响因子数据，建议查询最新年份的数据以获取准确结果。

3、通过 JCR 数据库查询：JCR是科睿唯安发布的期刊评价报告，提供权威的影响因子排名。

《Microelectronics Reliability》杂志基本信息

出版商：Elsevier Ltd

出版国家或地区：ENGLAND

ISSN：0026-2714，ESSN：1872-941X

出版语言：English

出版周期：Monthly

OA开放访问：未开放

《Microelectronics Reliability》杂志排名与分区

JCR（Journal Citation Reports）分区：Q3（ 按JIF指标学科分区学科： ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC分区：Q3NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY分区：Q4PHYSICS, APPLIED分区：Q3 ，按JCI指标学科分区学科： ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC分区：Q4NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY分区：Q4PHYSICS, APPLIED分区：Q4 ）

中科院分区大类学科：工程技术4区，小类学科：工程：电子与电气 4区纳米科技 4区物理：应用 4区。

《Microelectronics Reliability》杂志文献计量指标

CiteScore数值：3.3

SJR：0.394

SNIP：0.801

h-index：80

Gold OA文章占比：14.36%

平均审稿速度预计： 较快,2-4周 约8.3周